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更新時間：2026-06-06 
瀏覽次數：65# 2026年新品發布會#
日期：2026年6月6日
時間：8：30-18：30
近期我司新推出升級了
SANKO三高 SWT-NEOIII. 雙型薄膜厚度計
SANKO三高 SWT-NEOIII. 雙型薄膜厚度計
實現從0至數毫米范圍的薄膜厚度測量。
其典型測量精度為±1μm 或讀數的±2%，分辨率可達0.1μm，滿足JIS/ISO國際標準。
設備配備大型LCD背光屏、統計處理功能及數據輸出接口，支持單次/連續測量與上下限報警。
SANKO三高 SWT-NEOIII 雙型薄膜厚度計是一款高精度涂鍍層檢測儀器，
專為測量磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層（如絕緣涂層、樹脂、氟樹脂等）而設計，同時也可用于非磁性金屬基體上的絕緣涂層測量。
該型號采用雙型設計，集成電磁式和渦流式兩種原理，用戶可根據基體材質自動或手動切換，
探頭采用V型槽設計，便于圓柱/曲面定位。整機輕巧耐用，適用于電鍍、涂裝、線路板、汽車、薄膜制造等領域，確保在實驗室或現場環境下均能快速、非破壞性地獲得穩定、可靠的厚度數據。
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